L’imagerie de réflectance a aussi permis de mesurer les champs de déplacement de microleviers [Garraud2011] [Amiot2012] [Flammier2010] (MEMS) en vue d’application à la détection d’espèces chimiques ou biologiques (ANR µ-ecoliers SABM-ESPCI, FEMTO-ST Besançon). Ces travaux évoluent vers la détection de réactions électrochimiques et biologiques de surface, puisque la détection de dépôts organiques (anticorps) ou électrochimiques (diazonium) d’épaisseur nanométrique par de simples mesures de réflectivité vient d’être prouvée, donnant lieu à un brevet [Kanoufi2012]. Après simplification du système, des applications à très bas cout (tests sur le terrain et pays en développement) sont étudiées.
[Garraud2011] N. Garraud, Y. Fedala, F. Kanoufi, G. Tessier, J. P. Roger, and F. Amiot, "Multiple wavelengths reflectance microscopy to study the multi-physical behavior of MEMS". Optics Letters (2011).
[Amiot2012] F. Amiot, Y. Fedala, C. Flammier, N. Garraud, F. Kanoufi, J.P. Roger, G. Tessier, "Surface mechanics and full filed measurements for micromechanical sensors". Procedia IUTAM 4 ( 2012 ) 7 – 14
[Flammier2010] C. Flammier,Y. Fedala, F. Kanoufi, G. Tessier, J.P. Roger, F. Amiot, "Electro-elastic coupling modeling from multiple wavelengths imaging microscopy". ICEM 2009, Rome, Italy, 6-8 Septembre 2010.
[Kanoufi2012] Frédéric Kanoufi, Fabien Amiot, Catherine Combellas, Sarra Gam-Derouchi, Sorin Munteanu, Jean-Paul Roger, Gilles Tessier "Procédé et dispositif de mesure d’un milieu d’intérêt" Brevet Français n°1256911, déposé le 17 juillet 2012
